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自旋轉移矩磁隨機存儲器測試方法

標 準 號： T∕CIE 092-2020
替代情況：
發布單位： 中 國 電 子 學 會
起草單位： 北京航空航天大學、北京智芯微電子科技有限公司、北京芯可鑒科技有限公司、 上海佑磁信息科技有限公司
發布日期： 2020-12-21
實施日期： 2021-01-01
點 擊 數：
更新日期： 2026年03月28日
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內容摘要

本標準給出了自旋轉移矩磁隨機存儲器（Spin-Transfer Torque Magnetic Random Access Memory，STT-MRAM）的術語、測試原理、被測件、測試環境、測試設備、測試程序等。


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*本標準來自網友luyingwyh分享，只作為網友的交流學習之用。
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