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一維納米材料的基本結構 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法

標 準 號: GB/Z 21738-2008
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國科學院物理研究所電子顯微鏡實驗室
發(fā)布日期: 2008-05-08
實施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2026年03月12日
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內(nèi)容摘要

本指導性技術文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測納米材料中一維或準一維納米材料的原理、術語及定義、儀器和設備、樣品制備、測量程序、結果表示和試驗報告等內(nèi)容。
本指導性技術文件適用于測量一維或準一維納米材料的基本結構(形貌、排列情況、大小線度的分布、晶化情況、生長取向關系),元素組分、截面及界面原子排布等。

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