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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23部分：高溫工作壽命

標 準 號： GB/T 4937.23-2023
替代情況：
發布單位： 國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 廣東科信電子有限公司、佛山市川東磁電股份有限公司 等
發布日期： 2023-05-23
實施日期： 2023-12-01
點 擊 數：
更新日期： 2023年11月01日
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內容摘要

本文件描述了隨時間的推移，偏置條件和溫度對固態器件影響的試驗方法。該試驗以加速壽命模式模擬器件工作，主要用于器件的鑒定和可靠性檢驗。短期的高溫偏置壽命通常稱之為老煉，可用于篩選試驗中剔除早期失效產品。本文件未規定老煉的詳細要求和應用。

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