本標準規定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數法。
本標準適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應變一般不大于0.1%的納米材料。
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