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掃描探針顯微鏡校準規范

標 準 號: JJF 1351-2012
替代情況:
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局
起草單位: 中國航空工業集團公司北京長城計量測試技術研究所、上海計量測試技術研究院、貴州計量測試院等
發布日期: 2012-06-18
實施日期: 2012-09-18
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更新日期: 2023年05月15日
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內容摘要

本規范適用于以幾何表面形貌為測量對象的掃描探針顯微鏡的校準。
掃描探針顯微鏡根據其設計原理不同,校準時需要根據實際情況選擇相關的計量特性。對有特殊要求的測量任務,如對溯源要求較高的測量,不在本校準規范的適用范圍。

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