GB/T25758的本部分規定了采用清晰邊緣的射線照相底片,來校驗管電壓最高至500kV 的工業X 射線系統的大于0.5mm 焦點尺寸的方法。 
      X 射線圖像的像質和分辨力很大程度上取決于焦點的特性。焦點成像質量基于目標平面的二維強度分布。 
      邊緣方法對于在現場條件下校驗焦點是特別有效,以發現焦點的變化。本方法不能用于焦點尺寸的絕對測量。焦點尺寸的絕對測量方法見附錄A。