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光學系統波前像差的測定 夏克-哈特曼光電測量法

標 準 號： GB/T 44221-2024
替代情況：
發布單位： 國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 中國計量科學研究院、長春奧普光電技術股份有限公司、浙江舜宇光學有限公司等
發布日期： 2024-07-24
實施日期： 2025-02-01
點 擊 數：
更新日期： 2025年08月25日
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內容摘要

本文件描述了采用夏克-哈特曼法測量光學系統波前像差的原理及方法、測量條件、設備及裝置、測量步驟以及測量數據處理。 ?
本文件適用于采用夏克-哈特曼法測量光學系統波前像差的測量，也適用于光學零件面形偏差的測量。

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