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半導(dǎo)體集成電路 射頻發(fā)射器/接收器測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 44924-2024
替代情況：
發(fā)布單位： 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所、重慶西南集成電路設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司
發(fā)布日期： 2024-12-31
實(shí)施日期： 2025-04-01
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更新日期： 2025年08月06日
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內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器（以下簡(jiǎn)稱器件）的電特性測(cè)試方法的基本原理和測(cè)試程序。

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