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銀和銀合金鍍覆層厚度測量方法 Ｘ射線熒光光譜法

標 準 號： SJ 20147.1-1992
替代情況：
發布單位： 中國電子工業總公司
起草單位： 中國華晶電子集團公司等單位
發布日期： 1992-11-19
實施日期： 1993-05-01
點 擊 數：
更新日期： 2025年06月23日
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內容摘要

本標準規定了用x射線熒光光譜法測量銀和銀合金鍍覆層厚度的方法。它是’一種非接觸式的無損測量方法。本標準適用于銀和銀合金鍍覆層厚度的測量，也適用于常用金屬鍍覆層厚度的測量。該方法還可同時測量出表面鍍覆層和中間層的厚度。

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*本標準來自網友 luyingwyh 分享，只作為網友的交流學習之用。
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