本文件描述了電子元器件在實(shí)際貯存條件下隨時(shí)間推移的退化機(jī)理和退化方式,以及評(píng)估一般退化機(jī)理的試驗(yàn)方法。
通常本文件與IEC 62435-1一起使用,用于預(yù)計(jì)貯存時(shí)間超過12個(gè)月的長(zhǎng)期貯存器件。
特定類型電子元器件的退化機(jī)理在IEC 62435-5~I(xiàn)EC 62435-9中加以規(guī)定。
海上風(fēng)力發(fā)電機(jī)組調(diào)試技術(shù)規(guī)程
微波無源器件用高溫超導(dǎo)薄膜技術(shù)規(guī)范
信息技術(shù) 數(shù)字孿生 第2部分:數(shù)字實(shí)體
高壓直流輸電系統(tǒng)控制與保護(hù)設(shè)備 第6…
高壓直流輸電系統(tǒng)控制與保護(hù)設(shè)備 第5…
電動(dòng)汽車負(fù)荷聚合系統(tǒng) 資源接入通信…
繼電保護(hù)和安全自動(dòng)裝置運(yùn)行管理規(guī)程
電視收視率調(diào)查準(zhǔn)則