本文件規定了半導體集成電路驅動器（以下簡稱器件）的電特性測試方法的基本原理和測試程序。
本文件適用于74/54系列驅動器、總線驅動器、PIN開關驅動器、達林頓驅動器、時鐘驅動器、LVDS驅動器、MOSFET驅動器和差分驅動器等各種半導體工藝制造的驅動器的電性能測試。
其他類別驅動器的測試參考使用。