半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細規(guī)范

標準號： GB/T 18500.2-2001

替代情況：

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所

發(fā)布日期： 2001-01-01

實施日期： 2002-06-01

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更新日期： 2021年12月02日

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內(nèi)容摘要

本標準等同采用國際電工委員會（IEC）標準IEC 748-4-2：1993《半導體器件集成電路第4部分：接口集成電路第二篇：線性模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）空白詳細標準》，以促進我國該類產(chǎn)品的國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟交流。本標準可作為編制線性ADC詳細規(guī)范的依據(jù)。IEC電子器件質(zhì)量評定體系遵循IEC的章程并在IEC授權(quán)下進行工作。該體系的目的是確定質(zhì)量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關(guān)規(guī)范要求放行的電子器件無需進一步試驗而為其所有參加國同樣接受。本空白詳細規(guī)范是半導體器件的一系列空白詳細規(guī)范之一，并且與下列IEC標準一起使用。IEC 747-10/QC 700000 半導體器件第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范IEC 748-11/QC 790100 半導體器件集成電路第11部分：半導體集成電路（不包括混合電路）分規(guī)范