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光纖試驗方法規范 第20部分:尺寸參數的測量方法和試驗程序 光纖幾何參數

標 準 號: GB/T 15972.20-2008
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 武漢郵電科學研究院
發布日期: 2008-04-10
實施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2019年11月18日
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內容摘要

本部分代替GB/T15972.2—1998《光纖總規范 第2部分:尺寸參數試驗方法》的第5章、第6章和第8章。本部分為第一次修訂,它與GB/T15972.2×其他部分一起代替GB/T15972.2—1998 。本標準規定了測量未涂覆光纖幾何參數的試驗方法,確立了測量的統一試驗程序和技術要求。 本部分適用于對A 類多模光纖和B類單模光纖的測量和成品光纖光纜的商業性檢驗。 本部分與GB/T15972.2—1998第5章、第6章和第8章相比主要變化如下:
———刪除了“折射率剖面法”的提法,將其包括的試驗方法直接作為本部分的兩種試驗方法:方法A:折射近場法,方法B:橫向干涉法(1998年版的第5章;本版的附錄A、附錄B);
———修改了折射近場法對單模光纖聚焦光斑尺寸要求,光斑尺寸改為小于1.5μm(1998年版的第5章;本版的附錄A 中A.2.2);
———規定了光纖幾何參數的基準試驗方法(見本版的第4章);
———對每一種試驗方法的特定要求分別用附錄的形式給出(1998年版的第5章、第6章、第8章;本版的附錄A、附錄B、附錄C 和附錄D)。

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