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光纖試驗方法規范 第32部分:機械性能的測量方法和試驗程序 涂覆層可剝性【作廢】

標 準 號: GB/T 15972.32-2008
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 武漢郵電科學研究院
發布日期: 2008-03-31
實施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2019年11月18日
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內容摘要

本部分為GB/T15972的第32部分,本部分代替GB/T15972.3—1998《光纖總規范 第3部分:機械性能試驗方法》中第11章。本標準規定了沿光纖縱軸向定量地機械剝去保護涂覆層所需的力的試驗方法,確立了測量的統一試驗程序和技術要求。本部分適用于A1類、A2類、A3類和B類具有標稱外直徑為250μm~900μm 范圍內的聚合物作外被覆層的光纖的測量。本部分不適用于實際直徑230μm~930μm 范圍之外的聚合物作外被覆層的光纖。 本部分與GB/T15972.3—1998第11章相比主要變化如下:
———將標稱涂覆直徑為250μm 光纖的剝離長度可取值20mm30mm 或50mm 改為可取的值為30mm 或50mm(1998年版的11.3.2,本版的5.2);
———試驗標準大氣條件改為:溫度23℃±5℃;相對濕度45%±25%(1998年版的11.4.2,本版的3.3)。

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