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半導體器件 機械和氣候試驗方法 第22部分：鍵合強度

標 準 號： GB/T 4937.22-2018
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 深圳市標準技術研究院
發(fā)布日期： 2018-09-17
實施日期： 2019-01-01
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更新日期： 2018年11月06日
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內容摘要

本部分適用于半導體器件（分立器件和集成電路）。
本部分的目的是測量鍵合強度或確定鍵合強度是否滿足規(guī)定的要求。

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