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鋼表面納米、亞微米尺度薄膜 元素深度分布的定量測定 輝光放電原子發射光譜法

標 準 號: GB/T 22462-2008
替代情況:
發布單位: 中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 寶山鋼鐵股份有限公司、中國科學院物理研究所、中國科學院化學研究所等
發布日期: 2008-10-30
實施日期: 2009-06-01
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更新日期: 2012年02月07日
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內容摘要

      本標準采用輝光放電原子發射光譜法用于定量測定鋼表面納米、亞微米尺度薄膜(金屬鍍膜和氧化膜)中膜厚、鍍層質量(單位面積)和薄膜中的元素深度分布。 
     本方法適用于測定3nm~1000nm厚度的鋼表面薄膜,適用的元素包括:鐵、鉻、鎳、銅、鈦、錳、鋁、碳、磷、氧、氮和硅。

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